全自動掃描電子顯微鏡在繼承了Phenom（飛納）產品操作方便、30秒快速成優(yōu)質圖像、售后無憂等優(yōu)點的同時，電鏡分辨率和圖像質量顯著提高。廣泛應用于材料科學、生物科學、納米技術等領域。它在材料分析、表面形貌觀察、微觀結構研究等方面發(fā)揮著重要作用。在使用顯微鏡時，需要具備一定的操作技能和實驗經驗，并遵循正確的操作流程和安全規(guī)定，以確保儀器的正常運行和樣品的安全。
全自動掃描電子顯微鏡具有以下特點：
高分辨率：SEM能夠提供非常高的分辨率，可以觀察到納米級甚至更小的細節(jié)，使得樣品的微觀結構和表面形貌更加清晰可見。
高效性：具有高速掃描和圖像獲取能力，可以快速獲取大量的高質量顯微鏡圖像，提高工作效率和數據處理能力。
全自動化：相比傳統的掃描電子顯微鏡，顯微鏡具備全自動操作功能。通過先進的圖像處理和控制系統，它能夠自動調整焦距、對比度等參數，實現自動掃描、聚焦和圖像獲取。
多功能：全自動掃描電子顯微鏡通常還配備了多種附加功能，如能譜分析（EDS）和電子背散射衍射（EBSD），可以實現樣品的元素成分分析和晶體結構分析。在繼承了Phenom（飛納）產品操作方便、30秒快速成優(yōu)質圖像、售后無憂等優(yōu)點的同時，電鏡分辨率和圖像質量顯著提高。采用了壽命高達1500小時的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學顯微鏡，提高后的光學顯微鏡有聚焦功能，放大倍數在20-120倍之間，具備明場和暗場兩種模式。
